而小型元件中,又以高頻晶片陶瓷元件 (LTCC) 所需檢驗技術最高,其材料性質特殊,外觀檢測不易,通常使用于產品質量要求極高的無線通訊行業。針對客戶需求,臺達將AI六面檢查機導入某無線通訊行業客戶制程,成功提升其高頻晶片陶瓷元件的不良品檢出率。
傳統的LTCC元件多為人員目檢,在檢查速度、精度及穩定性上,皆無法滿足產能及品質水準。后來改以AOI (自動光學檢查) 設備做檢測,其檢測效率大幅提升,但對于產品的變異性仍不易偵測出,除了容易造成誤判、漏判外、也需要耗費大量的人力進行參數調整。臺達AI六面檢查機保留原有AOI優勢外,更加入了深度學習的功能,當系統自動學習一定數量的正常產品及缺陷產品影像后,便能自動將正常產品及缺陷產品分類,有效克服AOI難以檢出的暗裂及微裂等瑕疵,提升產品檢出率與檢出速度,節省作業時間、并減少產品誤判率。
AI六面檢查機設備檢測流程:整批料件進入臺達AI六面檢查機內建的震動盤內,經過整料后,放入玻璃盤進行帶動,高速檢測轉盤將電子料件運送至彩色CCD檢測站 (臺達AOI檢測) 進行六個面的檢查 (前照檢測、下照檢測、右照檢測、左照檢測、后照檢測、上照檢測),另外,臺達AI六面檢查機預留兩個檢測站作為備用檢測使用,客戶可自行輸入電腦影像處理演算法于CCD檢測站,進行自動光學檢測,再經過臺達AI人工智能檢測系統,能有效克服AOI難以檢出的暗裂及微裂等瑕疵,最后進行分料作業,杜絕將不良產品流至客戶端。
客戶在導入臺達AI六面檢查機后帶來的優勢包含:
• 提升產品檢出速度,節省作業時間:
臺達檢測系統運行穩定,支持高速檢測,檢測速度可達8,000 pcs / min,大幅提升檢測效率;可針對客戶需求,量身打造檢測演算法,其AI檢測系統結合人工智能,持續優化制程,并支持快速換線、強化離線檢出調整系統,優化人員調整效率,降低人工目檢造成的品質不穩定與人力成本。
• 提升產品檢出率,減少產品誤判率:
臺達 AOI + AI 檢測系統含有白光及復合光源系統及人工智能演算法,可偵測多種尺寸與材質,像是反光物及特殊缺陷 (暗裂及微裂等瑕疵) ,最小檢測元件尺寸可達0.4 X 0.2mm,加上檢查精度可達1um,有效提升不良品檢出率、降低批退率。
• 統計數據分析,MES連線管理:
支持統計系統,完整搜集生產信息,可匯出統計系統及圖表,并具備與制造執行系統 (MES) 連線功能,生產信息實時上傳,提供制程改善依據,解決傳統無法完整搜集、分析制程信息的問題。
臺達AI六面檢查機保留原有AOI優勢,并結合AI人工智能,可應用在被動元件、集成電路、LED、陶瓷導熱片等反光物及特殊缺陷的電子元件,節省整體檢測作業時間、提升產品檢出率與檢出速度,減少產品誤判率,使客戶產品的批退率獲得顯著的改善。